QWED諧振器SPRD

SPDR使用特定的諧振模式。該模式具有取決于諧振器尺寸的特定諧振頻率，并且在一定程度上也取決于測量樣品的電學(xué)性質(zhì)。因此，每個(gè)諧振器被設計用于特定的額定頻率，并且實(shí)際測量以接近標稱(chēng)頻率的頻率進(jìn)行。SPDR的基本線(xiàn)路的標稱(chēng)頻率為：1.1 GHz，1.9 GHz，2.45 GHz，5 GHz，10 GHz。在1.1 GHz和15 GHz之間的其他頻率的諧振器可以在特殊要求下制造。

測量空諧振器和諧振器的諧振頻率和Q因子。提供專(zhuān)用軟件用于介電常數和介電損耗角正切測定?？梢允褂肁gilent Technologies配備85071E材料測量軟件（選件300）的PNA / ENA系列網(wǎng)絡(luò )分析儀之一，用戶(hù)只需將QWED的專(zhuān)用應用程序上傳到網(wǎng)絡(luò )分析儀中，并直接在其顯示屏上獲得結果。使用不同網(wǎng)絡(luò )分析儀的用戶(hù)需要在標準PC計算機或網(wǎng)絡(luò )分析儀（如果配備Windows操作系統）上安裝介質(zhì)特性計算軟件。

薄層電阻測量范圍：4kΩ÷10MΩ

產(chǎn)地：波蘭

標稱(chēng)頻率：1.1 GHz，1.9 GHz，2.45 GHz，5 GHz，10 GHz

表面材質(zhì)：鋁

結果顯示：顯示屏

薄層電阻測量范圍：4kΩ...10MΩ

薄層電阻測量次數：2

薄膜襯底：半絕緣

測量數值：層狀介電材料的復介電常數

可定制：是

溫度范圍：-270℃至110℃

SPDR用于測量包括LTCC襯底在內的層狀電介質(zhì)材料的復介電常數，也用于沉積在低損耗介質(zhì)襯底上的薄鐵電薄膜。此外，SPDR可用于測量各種導電材料（如商用電阻層，薄導電聚合物膜或高電阻率半導體）的表面電阻和電導率。這種測量?jì)H適用于Rs> 5kΩ/平方的大表面電阻采樣。樣品的小尺寸取決于諧振器的工作頻率。SPDR適合在-270℃至110℃的溫度下工作。

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