DICON EXFO光器件測試儀CT440

CT400將高速電子設備和光干涉測量技術(shù)結合起來(lái)。四個(gè)集成的檢測器使您能夠同時(shí)測量四個(gè)通道，單次激光器掃描的動(dòng)態(tài)范圍為65 dB。此外，在以任何速度進(jìn)行掃描時(shí)波長(cháng)精度都可以達到±5 pm，因此不需要在測量速度和精度間進(jìn)行取舍。CT440集成了一個(gè)監測光電探測器，在掃描期間對來(lái)自激光光源的任何功率波動(dòng)進(jìn)行補償?？梢圆豢紤]激光器掃描速度，在1和250 pm之間選擇采樣分辨率。除了±5 pm的波長(cháng)精度外，內置的波長(cháng)計可減輕對可調諧激光光源（TLS）的要求，從而在不影響測量性能的情況下降低系統成本。CT440在與TLS和PC連接時(shí)，可提供執行準確測量所需的各種功能。

• 快速測量變換函數（插損）
• 波長(cháng)范圍：1240-1680 nm（SMF型號）
• PM和PDL選件
• 波長(cháng)分辨率：1至250 pm
• 波長(cháng)精度：±5 pm
• 動(dòng)態(tài)范圍：?jiǎn)未螔呙钑r(shí)65 dB
• 至多可結合4個(gè)可調諧激光器（SMF型號）
• 配備四個(gè)內部檢測器，可通過(guò)同步進(jìn)行擴展
• 19英寸機架支持1U版本

• 工作溫度：15 °C至30 °C（59 °F至86 °F）
• 存儲溫度：–10 °C至60 °C（14 °F至140 °F）
• 相對濕度:<80 %（非冷凝）
• 電源:AC：100 V至240 V（50 Hz至60 Hz）
• 尺寸（W x H x D）:440 mm x 50 mm x 375 mm
• 重量:3.5 kg至3.9 kg（7.7 lb至8.6 lb）